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发明专利申请书范文 2014

来源: NOW999 2014-07-03 12:39

发明专利申请书范文2014

发明人对自己发明可以依法向专利机关申请专利。因此,就需要填写发明专利申请书。内容包括:发明专利请求书、权利要求书、说明书摘要,还要附图。专利申请文件的撰写,是法律性和技术性都非常强的工作。能否撰写一份既适合具体发明的特点、又符合法律要求的专利申请文件。关系到专利申请人的切身利用。下面我们举一个发明专利申请书的范文,也许读者更好理解。

附录1:说明书附图

附录2:权利要求书

1.AB方法,其特征在于:

1)光线透过A与B后会聚C的传感器表面;

2)C将传感器表面的图像数据传输给E;

3)E由下式计算结果:结果=1+1,

2.根据权利1所述的AB方法,其特征在于:D控制B的工作状态。

3.AB方法,其特征在于:

1)光线透过A与B后会聚G的传感器表面;

2)G将传感器表面的图像数据传输给E;

3)E由下式计算结果:结果=1+1

4. 根据权利3所述的AB方法,其特征在于:D控制B的工作状态。

5.AB装置,包括A,其特征在于:还包括B、C、E;其中A、B、C依次放在光线的入射方向,E通过信号线与C连接。(注:因为A 已经申请了专利,不属于本发明的特征,因此写在“其特征在于”前。)

6.根据权利5所述的AB装置,其特征在于:包括D通过数据线与B连接。

7.根据权利5所述的AB装置,其特征在于:包括F,A与B装配在F内部。

8.AB装置,包括A,其特征在于:还包括B、G、E;其中A、B、G依次放在光线的入射方向,E通过信号线与C连接。

9.根据权利8所述的AB装置,其特征在于:包括D通过数据线与B连接。

10.根据权利8所述的AB装置,其特征在于:包括F,A与B装配在F内部。

附录3:说明书

AB方法与装置

技术领域

本发明属于光学精密测量技术领域,可用于XXX的检测与装配过程中的高精度XXX测量,

技术背景

近年来,超长焦距透镜广泛应用于高能激光器、天文望远镜等大型光学系统领域,此类大尺寸透镜的加工、检测与装配具有很高的难度。作为超长焦距透镜的重要参数,其焦距测量一直是光学测量领域的一个难点,主要因素在于:数值孔径小、焦深长,难以实现精确定焦;焦距长,难以精密测长;光路长,测量容易受到环境干扰。因此,放大率法或五棱镜法等传统的定焦方法难以实现超长焦距的高精度测量。 针对超长焦距测量,国内学者提出了新的测量方法,发表的文献主要包括:《中国测试技术》的《泰伯—莫尔法测量长焦距系统的焦距》;《光子学报》的《Ronchi光栅Talbot效应长焦距测量的准确度极限研究》。此类技术主要采用了泰伯-莫尔法,利用Ronchi光栅、Talbot效应实现定焦,通过数字信号处理技术测量焦距。该类测量方法的灵敏度相比传统方法有所提高,但光路长、测量过程复杂、需测量的参数多。

相比较国外的长焦距测量技术,在《The Optical Society of America》中2002年发表的《Focal length measurements for the National Ignition Facility large lenses》中,采用了菲索干涉组合透镜超长焦距测量技术进行长焦距测量,并达到很高的测量精度。该测量方法利用组合透镜方法减小了光路长度、简化了测量过程。但此方法测量过程中,采用干涉条纹定焦,干涉图案易受温度、气流、振动等环境状态因素的干扰,对测量环境提出了苛刻的要求。

以上几种测量方法的共性还在于:其评价尺度都是基于垂轴方向的图像信息。由于光学系统的物距变化引起的轴向放大率变化是垂轴放大率变化的平方,如果能够选取一种轴向信息作为评价尺度,则可以进一步提高焦距测量的灵敏度。 近年来,国内外显微成像领域的共焦显微技术快速发展,该技术以轴向的光强响应曲线作为评价尺度,灵敏度高于垂轴方向的评价方法,并且由于采用光强作为数据信息,相比图像处理方法具有更高的抗环境干扰能力。例如中国专利“共焦显微镜”(专利号01122439.8),提出了共焦显微技术,该技术主要适用于微观显微测量领域。迄今为止,尚未见到将该项技术直接应用于超长焦距定焦的报道。[page]

发明内容

本发明的目的是为了解决XXX问题,而提出一种AB方法与装置。

本发明的目的是通过下述技术方案实现的。

AB方法,其特征在于:

1)光线透过A与B后会聚C的传感器表面;

2)C将传感器表面的图像数据传输给E;

3)E由下式计算结果: 结果=1+1

AB方法,其特征在于:D控制B的工作状态。

AB方法,其特征在于:

1)光线透过A与B后会聚G的传感器表面;

2)G将传感器表面的图像数据传输给E;

3)E由下式计算结果:

结果=1+1

AB方法, D控制B的工作状态。

AB装置,包括A,还包括B、C、E;其中A、B、C依次放在光线的入射方向,E通过信号线与C连接。

AB装置,包括D通过数据线与B连接。 AB装置,包括F,A与B装配在F内部。 AB装置,包括A,还包括B、G、E;其中A、B、G依次放在光线的入射方向,E通过信号线与C连接。

AB装置包括D通过数据线与B连接。

AB装置包括F,A与B装配在F内部。

有益效果:

本发明对比已有技术具有以下创新点:

1. 使用B增强效果

2. 将A与B结合

本发明对比已有技术具有以下显著优点:

1. A与B结合后显著提高了XXX的精度

2. 系统中E可实现系统自动化处理

附图说明

图1为本发明方法的示意图;

图2为本发明方法的示意图;

图3为本发明装置的示意图;

图4为本发明装置的示意图;

图5为本发明实施例的示意图;

图6为本发明实施例的示意图;

其中:1-A、2-B、3-C、4-D、5-E、6-F、7-G、8-AA

具体实施方式

下面结合附图和实施例对本发明作进一步说明。

本发明的基本思想是利用融合A与B实现高精度XXX。

实施例1

采用附图5所示的装置实现XXX测量,

尽可能详细的描述ABCDEF装置的方法与装置:

采用的结构参数,部件,详细的测量步骤,测量结果(可选),

需要与权力要求书的1、2、5、6、7相对应,并尽可能详细。

例如:针对xxx应用的AB装置,包括A1、B2、C3、E5,其中A1采用xx公司口径xx的AA8镜头,B2采用xx国xxxx型号的光学中继系统,C3是xxx公司的xx型号传感器、E是xx型号的处理单元;其中A1镜头的设计参数为光线依次通过A1、B2、C3依次放在光线的入射方向,光线通过A1、B2后会聚在C3表面,C3将光强转化为电信号。E通过信号线与C连接。

施例2

采用附图6所示的装置实现XXX测量尽可能详细的描述ABGDEF装置的方法与装置: 采用的结构参数,部件,详细的测量步骤,测量结果(可选),需要与权力要求书的3、4、8、9、10相对应,并尽可能详细。

实施例3

此实施例通过一系列的措施实现了XXX测量,实现了AB方法与装置,与常规测量方法相比,具有更高的测量精度。

以上结合附图对本发明的具体实施方式作了说明,但这些说明不能被理解为限制了本发明的范围,本发明的保护范围由随附的权利要求书限定,任何在本发明权利要求基础上的改动都是本发明的保护范围。

附录4:说明书摘要 本发明属于光学精密测量技术领域,涉及一种AB方法与装置。该方法过程中,光线透过A与B后会聚C的传感器表面,C将传感器表面的图像数据传输给E,E实现高精度XXX测量,同时D还可以控制B的工作状态。本发明首次将A与B融合,提出了AB原理,具有测量精度高、灵敏度高的优点,可用于XXX的检测与装配过程中的高精度焦距测量。

附录5:摘要附图

以上我们列举了发明专利申请书范文,供读者更直观的学习参考,在实际应用中还要根据自己专利的实际情况,申请文件撰写的好坏直接影响能否获得专利权、影响专利保护范围的大小,也会影响该申请在专利局的审批速度。必须认真对待。

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